HORIBA堀場易操作多光路耦合納米拉曼光譜儀

TRIOS是一種優(yōu)良的研究平臺，為材料科學(xué)、生物學(xué)、光譜學(xué)和光子學(xué)領(lǐng)域的研究人員提供了進(jìn)入通道。TRIOS是通用的光學(xué)耦合平臺，提供三個端口用于光學(xué)光譜測量，可從頂部、側(cè)向和頂部通達(dá)AFM針尖和樣品。

無論您樣品是透明的還是不透明，也或者是在空氣中還是在液體中，觀察它們的納米結(jié)構(gòu)和近場光學(xué)特性研究，TRIOS平臺都是您適合的解決方案。它結(jié)合了頂部光學(xué)、頂部光學(xué)和原子力顯微鏡，釋放了這兩種技術(shù)的所有潛能，提供了儀器自動化調(diào)節(jié)和測量、高分辨率成像和靈活的耦合。這種性能只能從HORIBA獲得。

TRIOS輕松耦合交鑰匙拉曼/PL系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)同區(qū)域AFM-拉曼/PL測量、掃描近場光學(xué)顯微鏡（SNOM）和針尖增強(qiáng)光譜（TERS：針尖增強(qiáng)拉曼光譜和TEPL：針尖增強(qiáng)光致發(fā)光）。

同步光學(xué)通道

TRIOS平臺結(jié)合了頂部反射和底部透射光路，可以使用光學(xué)、拉曼、光致發(fā)光和掃描探針顯微鏡技術(shù)研究透明和非透明樣品。

TRIOS平臺是一個三端口配置，將所有可能的配置高度耦合到一個平臺中，并為針尖與激光準(zhǔn)直（帶物鏡掃描器）提供優(yōu)化的解決方案。

可以同時進(jìn)行兩路光學(xué)通道（從頂部和側(cè)面、從側(cè)面和底部、從頂部和底部）。

高效、易操作

TRIOS配備了全電動CombiScope AFM，具有自動一鍵點(diǎn)式激光-針尖準(zhǔn)直功能。全電動懸臂架和光電二極管定位大大簡化了整個系統(tǒng)調(diào)整過程，并提供了高水平的系統(tǒng)再現(xiàn)性。此外，在安裝相同或甚至不同類型的新懸臂梁后，樣品表面上的相同感興趣區(qū)域（在幾微米的重復(fù)性范圍內(nèi)）可以很容易地找回并掃描，而無需任何額外的操作。

頂級掃描器

TRIOS配備了CombiScope AFM，利用了精密運(yùn)動控制PI公司提供的閉環(huán)、高動態(tài)、3軸壓電納米定位掃描器。頂級掃描器是該系統(tǒng)的核心，使其能夠?qū)崿F(xiàn)高線性、高穩(wěn)固性和高精準(zhǔn)性運(yùn)動。

1300 nm AFM激光器

1300nm原子力顯微鏡反饋激光和常用的紫外、可見光和近紅外拉曼激光（364-830 nm）毫無相互干擾，并且消除了對可見光敏感生物和半導(dǎo)體樣品的任何干擾。

在液體中工作的解決方案

標(biāo)準(zhǔn)的TRIOS樣品架可容納所有常見的樣品襯底，包括載玻片、蓋玻片和35 mm培養(yǎng)皿。特殊設(shè)計的液體池具有加熱和液體灌注功能，可在生理環(huán)境和高達(dá)60°C的溫度維系下生物樣品。

一臺儀器即可實(shí)現(xiàn)所有操作模式

TRIOS平臺在一臺儀器中配備了所有現(xiàn)代AFM操作模式，無需任何額外硬件和成本。它包括諸如力模式、納米蝕刻、壓電力顯微鏡（PFM）、開爾文探針顯微鏡和調(diào)頻AFM（內(nèi)置PLL的動態(tài)力顯微鏡）等特殊應(yīng)用模式。此外，也可以選配掃描隧道顯微鏡（STM）頭和導(dǎo)電AFM在100 fA–10µA范圍內(nèi)工作（1 nA、100 nA和10µA三檔量程自由切換，1nA量程的電流噪聲為60 fA）和近場光學(xué)顯微鏡（SNOM）。TRIOS還可以輕松耦合Raman/PL系統(tǒng)中，用于同區(qū)域AFM-Raman/PL測量和針尖增強(qiáng)光譜（TERS：針尖增強(qiáng)拉曼光譜和TEPL：針尖增強(qiáng)光致發(fā)光）。

TRIOS特殊多功能性平臺已經(jīng)成為納米科學(xué)的解決方案。

各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇)、AND愛安得（電子天平）、SAN-EI三英(點(diǎn)膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機(jī),USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機(jī),IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機(jī),lambda拉姆達(dá)膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設(shè)備、顯影）、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克（檢查光源）、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學(xué)膜厚儀）、KOSAKA小坂（臺階儀）、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學(xué)（環(huán)境測定）、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）、yamada山田鹵素強(qiáng)光燈、CEDAR思達(dá)