HORIBA堀場經(jīng)濟(jì)適用納米拉曼光譜儀

這是一套基于業(yè)界掃描探針顯微鏡SmartSPM和 XploRA plus的耦合系統(tǒng)。

XploRA Nano系統(tǒng)，緊湊、全自動、易于使用，這是一套已經(jīng)得到證實(shí)了的經(jīng)濟(jì)適用的高度集中原子力顯微鏡-拉曼的全功能系統(tǒng)，它幫助大家實(shí)現(xiàn)TERS成像。

HORIBA堀場經(jīng)濟(jì)適用納米拉曼光譜儀

多樣品分析平臺

宏觀、微觀和納米尺度的測量可以在同一個(gè)平臺上進(jìn)行

簡單易用

全自動操作，在幾分鐘內(nèi)即可開始測量，而不是幾小時(shí)！

真正的共聚焦

高空間分辨率，自動樣品臺，全顯微鏡可視化。

高收集效率

頂部和側(cè)向拉曼光譜檢測都可以獲得高分辨和高通量測量同區(qū)域和針尖增強(qiáng)光譜測量（TERS和TEPL)

高光譜分辨率

高光譜分辨能力，多光柵自動切換，寬光譜范圍的拉曼和光致發(fā)光分析。

高空間分辨率

針尖增強(qiáng)的納米級光譜分辨率（優(yōu)于10nm）

豐富的光學(xué)光譜（拉曼和光致發(fā)光）

多技術(shù)/多環(huán)境

結(jié)合TERS/TEPL化學(xué)成像的多模式SPM技術(shù)包括AFM、導(dǎo)電和電學(xué)模式（cAFM、KPFM）、STM、液池和電化學(xué)環(huán)境。一個(gè)工作站和強(qiáng)大的軟件即可對兩臺儀器進(jìn)行控制，SPM和光譜儀可以同時(shí)或獨(dú)立操作。

堅(jiān)固性/穩(wěn)定性

高共振頻率AFM掃描器，遠(yuǎn)離噪音干擾！高性能表現(xiàn)，無需主動隔振系統(tǒng)。

各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇)、AND愛安得（電子天平）、SAN-EI三英(點(diǎn)膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機(jī),USHIO牛尾照度計(jì),Tsubosaka壺坂電機(jī),IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機(jī),lambda拉姆達(dá)膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設(shè)備、顯影）、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克（檢查光源）、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學(xué)膜厚儀）、KOSAKA小坂（臺階儀）、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學(xué)（環(huán)境測定）、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）、yamada山田鹵素強(qiáng)光燈、CEDAR思達(dá)