便攜式四探針測試儀/四探針檢測儀/電阻率檢測儀 型號:HAD-TS-2

測量范圍寬、度、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作的便攜式
 體積僅為：125mm(寬)*145mm()*245mm(深)
 
 
  HAD-TS-2/TS-2A型便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而的，用于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
    儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數(shù)快、度、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等點。如有需要可加配測試臺使用。
    本儀器廣泛應用于太陽能單晶（多晶）廠家為硅材料的分選測試，半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、等院校對半導體材料的電阻性能測試。

　術(shù)　　標 ：

便攜式四探針測試儀按測量范圍可選配HAD-TS-2型或HAD-TS-2A型，區(qū)別：測量范圍不樣。

 HAD-TS-2測量范圍

 電阻率：0.01～1999.9Ω.cm；  
 方塊電阻：0.1～19999Ω/□；

 HAD-TS-2A測量范圍

 電阻率：0.001～199.99Ω.cm；  
 方塊電阻：0.01～1999.9Ω/□；

HAD-TS-2恒源

 電量程分為100μA、1mA兩檔，各檔電連續(xù)可調(diào)

HAD-TS-2A恒源

 電量程分為1mA、10mA兩檔，各檔電連續(xù)可調(diào)

數(shù)字電壓表

 量程及表示形式：000.00～199.99mV；
 分辨力：10μV；
 輸入阻抗：>1000MΩ；
 度：±0.1% ；
 顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示；性、量程自動顯示；

四探針探頭基本標

 間距：1±0.01mm；
 針間緣電阻：≥1000MΩ；
 機械游移率：≤0.3%；
 探針：碳化鎢或速鋼Ф0.5mm；
 探針壓力：5～16 牛頓(總力)；

四探針探頭應用參數(shù)

 (見探頭附帶的合格證)

模擬電阻測量相對誤差
( 按JJG508-87行)

 1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字

整機測量zui大相對誤差

(用硅標樣片：0.01-180Ω.cm測試)≤±5%

整機測量標準不確定度

 ≤5%

外型尺寸

 125mm(寬)*145mm()*245mm(深)

標準使用環(huán)境

 溫度：23±2℃；
 相對濕度：≤65%；
 無頻干擾；
 無強光直射；