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微波光電導(dǎo)載子復(fù)合壽命測試儀/少子壽命測試儀 型號:HAD-100A
HAD-100A型微波光電導(dǎo)載子復(fù)合壽命測試儀是參照半導(dǎo)體設(shè)備和材料際組織SEMI標(biāo)準(zhǔn)MF1535-0707及家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 26068-2010制。并且我單位是微波反射法家標(biāo)準(zhǔn)起草單位之。本設(shè)備采用微波反射無接觸光電導(dǎo)衰退測量方法,適用于厚度為1mm以下的硅片、電池片少數(shù)載子壽命的測量,提供無接觸、無損傷、數(shù)字顯示的快速測量。壽命測量可靈敏地反映半導(dǎo)體重金屬污染及缺陷存在的情況,是半導(dǎo)體質(zhì)量的重要檢測項目。
壽命測量范圍:0.25μs-10ms;樣品電阻率下限>0.5Ω·cm。
讀數(shù)方式:數(shù)字直讀。
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