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A型試片/靈敏度試片/探傷試片 型號(hào):A1
型靈敏度試片用于零件的磁粉探傷,在檢查中,對(duì)幾何形狀復(fù)雜,不同材質(zhì)的件,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設(shè)備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免 漏檢,正確地知道探傷作所需的電峰值和方向,并對(duì)顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量。A型靈敏試片是磁粉探傷作者的調(diào)試具。
點(diǎn)如下:
試片用于磁粉顯示,圖像直觀,使用簡便,對(duì)各類零件所方向的磁場,尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時(shí),表現(xiàn)其的優(yōu)點(diǎn)。
性能規(guī)格:
試片=1(u)適用于靈敏度探傷,規(guī)格為(11-12)D;=2(
u)適用于中靈敏度探傷,為(8-9)D;=3(
u)適用于低靈敏度探傷,規(guī)格為(5-6)D。括號(hào)中分子為槽深,分母為試片厚度,單位為U(微米),D為件直徑。
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