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產品簡介
詳細介紹
MK350S光源光譜分析儀
| 感測器 | CMOS 線性感測器 | |
| 光譜波長寬度（半波寬） | 約 12 nm | |
| 探頭窗口 | ? 6.6 ± 0.1 mm | |
| 餘弦響應 | 參照圖1 | |
| 測量範圍 | 20 ~ 70000 Lux | |
| 光譜波長範圍 | 380 ~ 780 nm | |
| 曝光時間 | 6 ~ 5000 ms | |
| 量測功能 | 單次 / 連續(xù) | |
| 曝光模式 | 自動 / 手動 | |
| 顯示模式 | 1. 基本顯示模式 | |
| 2. 光譜顯示模式 | ||
| 3. CIE 1931 色度座標模式 | ||
| 4. CIE 1976 U.C.S 色度座標圖模式 | ||
| 5. 顯色指數顯示模式 | ||
| 6. 照度分佈影像顯示 | ||
| 7. 連續(xù)量測模式 | ||
| 8. 色溫分級模式 | ||
| 9. 品質檢驗模式 | ||
| 10. 量測比對模式 | ||
| 11. 檔案瀏覽模式 | ||
| 量測能力 | 1. 相關色溫 / 色溫分級表 | |
| 2. 照度 / 燭光 | ||
| 3. 顯色性 / 顯色指數 | ||
| 4. 光譜圖 | ||
| 5. C.I.E 色度座標圖 | ||
| (1) CIE 1931 x,y 座標圖 | ||
| (2) CIE 1976 U.C.S u',v' 座標圖 | ||
| 6. 峰值波長 / 主波長 | ||
| 7. △x,△y,△u',△v' | ||
| 8. duv, Purity | ||
| 9. PPF(400nm~700nm) | ||
| 10. BIN | ||
| 數位解析度 | 16 bits | |
| 歸零校正 | 有 | |
| 雜散光 | -25 dB max. | |
| 波長資料輸出間隔 | 1 nm | |
| 波長再現性 | ± 1 nm | |
| 照度精度 | 標準光源 A @ 2856K 於 20000 Lux | ± 5% |
| 色座標 | ± 0.0025 in CIE 1931 x,y | |
| 重複性 | ± 0.0005 in CIE 1931 x,y | |
| 相關色溫 | ± 2% | |
| 顯色性 | ± 1.5% | |
| 顯示 | 4.3" LCD 800X480 觸控面板 | |
| 相機像素 | 2M pixels | |
| 檔案儲存數 | 約 2000 檔案 @ 2GB SD Card | |
| 電池操作時間 | ≦ 4 hours / 充飽電 | |
| 電池種類 | 2500 mAh / 可充電式鋰電池 | |
| 資料輸出介面 | ||
