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產(chǎn)品簡介
儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用一旋鈕輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉(zhuǎn)換量程；測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。
詳細介紹
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產(chǎn)品概述詳細
詳細資料：
一、概述
數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。
本測試儀可贈設(shè)電池供電，適合手持式變動場合操作！
儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用一旋鈕輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉(zhuǎn)換量程；測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。
二、基本技術(shù)參數(shù)
1.測量范圍、分辨率
電阻：1.0×10-2～2000Ω,分辨率0.1×10-3～0.1×10Ω
電阻率：1.0×10-3～2000Ω-cm分辨率0.1×10-2～0.1Ω-cm
方塊電阻：1.0×10-3～2000Ω/□分辨率1.0×10-1～0.1×10Ω/□
2.可測半導(dǎo)體材料尺寸（手持式）
直徑：測試臺直接測試方式Φ15～130mm，其他方式不限.
長（或高）度：測試臺直接測試方式H≤160mm,其他方式不限.
3.量程劃分及誤差等級
量程
2.000
200.0
20.00
2.000
200.0
kΩ-cm/□
Ω-cm/□
mΩ-cm/□
基本誤差
±1%FSB±2LSB
±1.5%FSB
±4LSB
4）適配器工作電源：220V±10％,f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5）外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈重：≤0.5kg