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產(chǎn)品簡介
光譜輻亮度計是一款可進(jìn)行光譜輻射曲線分析和極低亮度測量的分光輻射亮度計，可滿足高測量要求的實驗室應(yīng)用，而且對于野外現(xiàn)場測量應(yīng)用也十分方便，廣泛應(yīng)用于照明工程、光源和發(fā)光器件、電影電視、交通信號、建筑、大氣光度等領(lǐng)域。
詳細(xì)介紹
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產(chǎn)品概述詳細(xì)
產(chǎn)品概述
光譜輻亮度計是一款可進(jìn)行光譜輻射曲線分析和極低亮度測量的分光輻射亮度計，可滿足高測量要求的實驗室應(yīng)用，而且對于野外現(xiàn)場測量應(yīng)用也十分方便，廣泛應(yīng)用于照明工程、光源和發(fā)光器件、電影電視、交通信號、建筑、大氣光度等領(lǐng)域。
0.003cd/m2低亮度測量能力；
1000000：1對比度測量能力。
技術(shù)參數(shù)
1、主要技術(shù)特性：
（1）不存在V（λ）失匹配誤差，測量精度高；
（2）視場角設(shè)置靈活：內(nèi)置4個視場角，分別為2°、1°、0.2°、0.1°，可方便的適用于不同大小的測量對象，亮度測量范圍廣。
（3））配有大口徑高像質(zhì)的望遠(yuǎn)物鏡，加輔助鏡后，能提供更小的視場角，可對近距離細(xì)微物體或光源的亮度進(jìn)行瞄點測量。
（4）采用恒溫制冷型陣列探測器具備靈敏度高、噪聲低、線性動態(tài)范圍寬等優(yōu)點；
（5）光柵與陣列探測器光學(xué)系統(tǒng)經(jīng)過改良設(shè)計，雜散光影響極?。?/p>
（6）測試方便，儀器本身具有以TFT液晶和觸摸屏為介質(zhì)的人機(jī)交互界面，可方便快速進(jìn)行測試或組成測試系統(tǒng)。
2、主要測量功能：
光亮度、輻射亮度、相對光譜功率分布P（λ）、色品坐標(biāo)（x，y）、（u'，v'）、相關(guān)色溫Tc、顯色指數(shù)Ra、色容差、峰值波長、半寬度、色純度、主波長、紅色比等。
3、主要技術(shù)指標(biāo)：
波長范圍 | 380-780nm | |||
波長分辨率 | 0.6nm/像素 | |||
顯示波長間隔 | 1.0nm | |||
波長精度 | ±0.3nm | |||
觀察視場 | 8° | |||
zui小測量距離 | 約400mm（標(biāo)準(zhǔn)鏡頭） | |||
測量視場角 | 2° | 1° | 0.2° | 0.1° |
zui小測量區(qū)域 （標(biāo)準(zhǔn)鏡頭） | Φ11mm | Φ5.6mm | Φ1.1mm | Φ0.55mm |
測量亮度范圍 （標(biāo)準(zhǔn)A光源） | 0.003-5000 cd/㎡ | 0.012-20000 cd/㎡ | 0.3-500,000 cd/㎡ | 1.2-2,000,000 cd/㎡ |
亮度精度等級 | 標(biāo)準(zhǔn)級，按國家計量檢定規(guī)程JJG211-2005 | |||
亮度測量允許誤差 | ±2%讀數(shù)+1個字 （按國家計量檢定規(guī)程JJG211-2005方法檢驗，指標(biāo)高于2.5%的允許誤差要求） | |||
色度精度（x, y） （標(biāo)準(zhǔn)A光源） | 0.002（<0.05cd/㎡） 0.001（<5,000cd/㎡） | 0.002 （<0.2cd/㎡） 0.001 （<20,000cd/㎡） | 0.002 （<5cd/㎡） 0.001（<500,000cd/㎡） | 0.002 （<20cd/㎡） 0.001（<2,000,000cd/㎡） |
色溫顯示范圍 | 1000K – 100000K | |||
積分時間 | 9ms-240000ms | |||
色空間模式 | Lv x y、Lv u’ v’、Lv Δuv、XYZ、主波長、光譜圖 | |||
接口 | RS232 | |||
選項 | 可選配輔助鏡，用于更小發(fā)光面的測量 |