目錄:上海明策電子科技有限公司>>INFRAMET光電測(cè)試系統(tǒng)>>光電測(cè)試系統(tǒng)>> 熱像儀雙點(diǎn)NUC的黑體裝置 BNUC
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更新時(shí)間:2025-05-28 14:57:05瀏覽次數(shù):76評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,制藥/生物制藥 |
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熱像儀中IR FPA傳感器生成的原始圖像通常噪聲較大,主要源于該圖像傳感器像素增益與偏移量的顯著差異所產(chǎn)生的高空間噪聲。因此,這種空間噪聲(其隨像素點(diǎn)變化但幾乎不隨時(shí)間改變)必須通過(guò)圖像處理技術(shù)進(jìn)行校正。實(shí)際操作中,這意味著所有熱像儀都需在出廠時(shí)進(jìn)行校準(zhǔn),以生成非均勻性補(bǔ)償(NUC)系數(shù),這些系數(shù)由相機(jī)實(shí)時(shí)自動(dòng)應(yīng)用以維持良好的圖像質(zhì)量。
這些系數(shù)是在所謂的兩點(diǎn) NUC 操作過(guò)程中確定的。NUC 系數(shù)通?;诒粶y(cè)熱像儀FOV覆蓋的大面積均勻黑體在兩種典型溫度下拍攝的圖像計(jì)算得出。由于黑體輻射具有均勻性,制造商可確認(rèn)不同像素間的信號(hào)差異即為待校正的空間噪聲。
制造商采用多種數(shù)學(xué)算法校正空間噪聲。但從測(cè)試設(shè)備角度看,主要有三種兩點(diǎn)非均勻性校正方法:
A) 在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度(約 )下進(jìn)行測(cè)試,分別采集高溫黑體(溫度高于環(huán)境約)和中性黑體(溫度等于環(huán)境溫度)的圖像。
B) 在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度下測(cè)試,采集高溫黑體(溫度高于環(huán)境約 )與低溫黑體(溫度低于環(huán)境約10℃ )的圖像。
C))在溫變?cè)囼?yàn)箱中進(jìn)行測(cè)試(環(huán)境溫度范圍約為 至 ),通過(guò)拍攝高溫黑體(溫度高于環(huán)境溫度約 )和低溫黑體(溫度低于環(huán)境溫度約)的圖像。
?法 A 最為簡(jiǎn)單典型,但僅當(dāng)熱像儀在接近實(shí)驗(yàn)室典型溫度下?作且具有對(duì)稱響應(yīng)函數(shù)時(shí),才能補(bǔ)償空間噪聲。
?法 B 尤其在使?低于環(huán)境溫度約 的?體時(shí),消除了后?限制。然?,當(dāng)發(fā)射體處于零下溫度時(shí),此類?體表?可能出現(xiàn)?汽凝結(jié)問(wèn)題。
?法 C 最為優(yōu)良,它能針對(duì)不同環(huán)境溫度確定?組?均勻性校正系數(shù),并設(shè)計(jì)出在任何環(huán)境溫度下都能輸出?乎?空間噪聲圖像的熱像儀。
實(shí)際應(yīng)用中這意味著黑體需具備以下特性:
1.黑體發(fā)射面必須足夠大以覆蓋被測(cè)熱像儀的FOV視場(chǎng)(黑體通常置于距熱像儀光學(xué)鏡頭極近的位置)
2.黑體發(fā)射器具有極低且漫反射的特性(熱源輻射在黑體表面無(wú)可見(jiàn)反射)
3.的熱均勻性(熱輻射發(fā)射均勻)
4.的時(shí)間均勻性(發(fā)射的熱輻射無(wú)時(shí)間變化可檢測(cè))
5.能在環(huán)境條件下工作,溫度范圍約從 至約
國(guó)際市場(chǎng)上存在多種低成本黑體源,可用于兩點(diǎn)NUC應(yīng)用。然而,由于存在顯著的鏡面反射率、明顯的熱均勻性與時(shí)間穩(wěn)定性問(wèn)題,以及無(wú)法在溫度艙內(nèi)工作,這些黑體源并不適用于專業(yè)場(chǎng)景。Inframet BNUC 系列專為上述專業(yè)應(yīng)用場(chǎng)景優(yōu)化設(shè)計(jì)。
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