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目錄:上海明策電子科技有限公司>>INFRAMET光電測試系統(tǒng)>>光電測試系統(tǒng)>> FCLIP 卡扣式融合成像器校軸儀

FCLIP 卡扣式融合成像器校軸儀
  • FCLIP 卡扣式融合成像器校軸儀
參考價 500000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
500000
≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 INFRAMET
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時間:2025-05-29 10:19:49瀏覽次數(shù):67評價

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FCLIP卡扣式融合成像器校軸儀是一個計算機(jī)化的測試平臺,用于測試卡扣式融合成像器、熱像儀和夜視儀。FCLIP能夠測量決定融合成像器的像移的幾個校軸參數(shù)。

FCLIP校軸儀設(shè)計思路是將位于可變距離標(biāo)準(zhǔn)靶標(biāo)投影到被測成像器的物方,然后分析兩個成像通道產(chǎn)生的圖像。具體投影圖像由BTG寬帶目標(biāo)發(fā)生器產(chǎn)生,由CRI反射型平行光管投影到被測成像器上的物方。然后,用IM50可視相機(jī)采集圖像并

 FCLIP卡扣式融合成像器校軸儀是一個計算機(jī)化的測試平臺,用于測試卡扣式融合成像器、熱像儀和夜視儀。FCLIP能夠測量決定融合成像器的像移的幾個校軸參數(shù)。

       FCLIP校軸儀設(shè)計思路是將位于可變距離標(biāo)準(zhǔn)靶標(biāo)投影到被測成像器的物方,然后分析兩個成像通道產(chǎn)生的圖像。具體投影圖像由BTG寬帶目標(biāo)發(fā)生器產(chǎn)生,由CRI反射型平行光管投影到被測成像器上的物方。然后,用IM50可視相機(jī)采集圖像并發(fā)送到計算機(jī)。最后利用軟件進(jìn)行圖像分析。

       FCLIP校軸儀是充分利用現(xiàn)代計算機(jī)技術(shù)成果的新一代測試平臺。這種測量方法大大提高了校軸偏差的測量精度,縮短了測量時間,消除了人為的主觀誤差,實現(xiàn)了測試結(jié)果的保存。

該設(shè)備被認(rèn)為是近乎標(biāo)準(zhǔn)的最終質(zhì)量評測工具或制造/維修輔助工具。

       FCLIP 是模塊化系統(tǒng),由以下模塊組成:BTG 目標(biāo)發(fā)生器,CRI760 離軸反射式光管,MP1913 機(jī)械平臺,IM50 相機(jī),BP 導(dǎo)軌,便攜式計算機(jī),BOR 計算程序。

CLIP校軸儀可以測量以下參數(shù):

1. 夜視通道偏角(輸入光學(xué)系統(tǒng)光軸與夜視通道輸出光學(xué)系統(tǒng)光軸之間的夾角)

2. 熱成像通道偏角(輸入光學(xué)系統(tǒng)光軸與熱成像通道光軸之間的夾角)。

3. 雙通道校軸誤差(夜視通道光軸和熱成像通道光軸之間的夾角)

4. 可見光通道分辨率(最小可分辨目標(biāo)的空間角頻率)

5. 熱成像通道分辨率(最小可分辨目標(biāo)的空間角頻率)

6. 雙通道旋轉(zhuǎn)角度差(可見光通道相對于熱成像通道的旋轉(zhuǎn)角)

7. 可見光通道的旋轉(zhuǎn)角度(可見光通道生成的圖像相對于瞄準(zhǔn)鏡生成的圖像的旋轉(zhuǎn)角)

8. 熱成像通道的旋轉(zhuǎn)角度(熱成像通道生成的圖像相對于瞄準(zhǔn)鏡生成的圖像的旋轉(zhuǎn)角)

9. 夜視通道的軸對準(zhǔn)誤差(無限遠(yuǎn)時夜視通道的光軸與聚焦有限遠(yuǎn)目標(biāo)時同一光軸之間的夾角)

10. 熱成像通道的軸對準(zhǔn)誤差(無限遠(yuǎn)時熱成像通道的光軸與聚焦有限遠(yuǎn)目標(biāo)時同一光軸之間的夾角)

FCLIP 校軸儀主要由以下4種配置,每種配置覆蓋不同的測試能力。

FCLIP-A只能測量無限遠(yuǎn)目標(biāo)情況下兩個成像通道的偏轉(zhuǎn)角。一般假設(shè)被測成像器的光學(xué)物鏡焦距大于2000mm即可看做是無限遠(yuǎn)。因此,可以認(rèn)為FCLIP-A可以滿足大多數(shù)卡扣式成像器的測試需求。

FCLIP-B提供與FCLIP-A相同的測試能力,另外可以測量兩個成像通道的分辨率。這個功能幫助評價被測成像器的成像質(zhì)量。

FCLIP-C提供與FCLIP-B相同的測試能力,另外可以測量圖像旋轉(zhuǎn)偏差。

FCLIP-D提供有限遠(yuǎn)目標(biāo)(距離:約50m、100m、200m、400m、1000m和無限遠(yuǎn))時測量兩個成像通道的軸偏差。當(dāng)測試高性能融合成像器時這種有限遠(yuǎn)目標(biāo)測試是必要的。



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