奧林巴斯 實驗室顯微鏡 參考價:面議
奧林巴斯 實驗室顯微鏡采用ESD防靜電設(shè)計,結(jié)構(gòu)緊湊,輕巧,易于和其他設(shè)備配套使用,實現(xiàn)了小型機體的格里諾(Greenough)光學系統(tǒng)。連續(xù)變倍體視顯微鏡 參考價:面議
SZX16進口偏光顯微鏡是根據(jù)檢測應(yīng)用的需求設(shè)計的,0.7x - 11.5x,變倍比可達16.4倍,分辨率可達900LP/mm。能夠滿足廣泛的研究需求。奧林巴斯 原子力激光共焦顯微鏡 參考價:面議
OLYMPUS LEXT OLS4500原子力激光共聚焦顯微鏡是結(jié)合了傳統(tǒng)光學顯微鏡、激光掃描顯微鏡(LSM)以及探針掃描顯微鏡(SPM)功能的一體機??梢詽M足...手持式X射線熒光分析儀 參考價:面議
手持式x射線熒光光譜分析儀用于檢測含鉛漆層的DELTA手持式XRF分析儀:可在數(shù)秒鐘內(nèi)檢測出鉛(Pb)的含量。這些性能可靠、基于射線管的分析儀重量極輕,且機身設(shè)...Delta手持式XRF分析儀 參考價:面議
手持式XRF分析儀用于礦業(yè)和地球化學行業(yè)的DELTA手持式XRF分析儀可以即時得到檢測結(jié)果,從而有助于決定整個程序中的下一步操作:勘探、礦石定級/處理控制、環(huán)境...手持式XRF分析儀 參考價:面議
手持式金屬光譜分析儀用于貴金屬檢測的DELTA XRF分析儀無需將檢測工具探入到被測樣件的材料中,也不會損壞被測樣件,即可快速獲得樣件精確的合金化學成份信息,并...DELTA手持式X射線熒光分析儀 參考價:面議
奧林巴斯合金分析儀可以方便、直接地分揀和定級鋁材以及含鋁元素的材料。DELTA Premium奧林巴斯合金分析儀所提供的鋁材分析性能。可為用戶提供極為精細的材料...DELTA手持式X射線熒光分析儀 參考價:面議
x射線熒光光譜儀用于研究與發(fā)現(xiàn)的DELTA手持式X射線熒光分析儀可對從鎂到鈾的各種元素進行分析,可測出的元素含量在PPM計含量到100%范圍之內(nèi)。手持式X熒光分析儀 參考價:面議
用于廢料分揀的DELTA手持式X射線熒光分析儀可在1到2秒鐘時間內(nèi)對大多數(shù)合金的級別和純金屬進行可靠的辨別。這些分析儀的機身設(shè)計堅固耐用,可在惡劣的環(huán)境中正常操...EPOCH超聲探傷儀 參考價:面議
EPOCH LTC進口探傷儀是一款中級水平的便攜式超聲探傷儀。這款進口探傷儀小巧的儀器為橫窄豎寬結(jié)構(gòu),僅重0.96公斤(2.12磅)。這款進口探傷儀功能齊全的儀...數(shù)字探傷儀 參考價:面議
EPOCH LT進口數(shù)字探傷儀是一款厚度僅有38毫米、重量僅為1公斤的手持式數(shù)字探傷儀。EPOCH LT進口數(shù)字探傷儀具有Z低60 Hz的快速顯示刷新率。該儀器...便攜式電渦流裂紋探傷儀 參考價:面議
進口便攜式電渦流裂紋探傷儀NORTEC 600Olympus在這款袖珍便攜、堅固耐用的新型NORTEC 600儀器中匯集了高性能數(shù)字電路和渦流探傷方面。NORT...渦流探傷儀 參考價:面議
進口渦流探傷儀用于進行渦流陣列檢測。其檢測配置支持32個傳感器線圈(使用外置多路轉(zhuǎn)換器可支持64個線圈),其工作模式可為橋式或發(fā)送接收式。其工作頻率范圍為20 ...手持式超聲波測厚儀 參考價:面議
45MG手持式超聲波測厚儀: 操作簡便、堅固耐用、性能可靠,這款手持式超聲波測厚儀是一款集所有解決方案于一機的創(chuàng)新型儀器,可用于幾乎所有測厚應(yīng)用。進口工業(yè)內(nèi)窺鏡 參考價:面議
手持式工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡設(shè)計目的是在工廠維護、綜合制造、公共安全、汽車、發(fā)電和航空等各領(lǐng)域進行操作。由于奧林巴斯工業(yè)內(nèi)窺鏡高性價比,您可以將C系列添加到您的檢測儀器...奧林巴斯 進口體視顯微鏡 參考價:面議
SZX7奧林巴斯 進口體視顯微鏡,價格適中、操作簡便、觀察舒適,并配有7:1變焦率功能和內(nèi)置防靜電保護裝置,采用了先進的伽利略光學系統(tǒng),可生成優(yōu)異的高畫質(zhì)圖像。奧林巴斯 鏡片反射率測定儀 USPMⅢ 參考價:面議
鏡片反射率測定儀USPM-RUⅢ是在原USPM-RU儀器上開發(fā)出的換代產(chǎn)品,是的新機型。薄鏡片也不受背面反射光的影響,能實現(xiàn)高速、高精度的分光測定。奧林巴斯 近紅外顯微分光測定儀 USPM-RU-W 參考價:面議
奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能...