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電子材料中有害重金屬分析設(shè)備介紹

2021-11-12  閱讀(1082)

電子材料中有害重金屬分析設(shè)備介紹

RoHS 指令于 2006 年 7 月在 EU(歐盟)生效,限制了六種特定有害物質(zhì)(鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、PBB 和 PBDE)在電氣和電子設(shè)備中的使用。使用 OURSTEX160RoHS,可以在短時(shí)間內(nèi)輕松測量這些有害物質(zhì)。它還緊湊輕便,非常適合在現(xiàn)場進(jìn)行現(xiàn)場分析。

OURSTEX 160 RoHS 照片

 【特征】  ● 無需液氮或冷卻水即可使用100V 電源進(jìn)行分析?!  ?nbsp;高計(jì)數(shù)率和高分辨率可在短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)微量分析  ● 非常適合符合 WEEE 和 RoHS 法規(guī)以及 ELV 指令的測量  ● 可在大型樣品室對樣品進(jìn)行無損分析  ● CCD攝像頭的樣品位置確認(rèn)顯示  【應(yīng)用實(shí)例】  ● 稀土分析  ● 焊錫中鉛的分析  ● 分析金屬和電子元件中的有害元素


應(yīng)用實(shí)例

  • 貴金屬分析

  • 稀土分析

  • 硬幣分析

  • 食品分析

  • 耳環(huán)分析

  • 環(huán)分析

  • 嬰兒玩具中的有害元素分析

  • 配件中的有害元素分析

OURSTEX 160 RoHS 規(guī)范

 

測量原理 能量色散X射線熒光分析法
測量對象 土壤樣品、電氣/電子零件、塑料等。
測量元件 鉻,砷,硒,BR /,鎘,汞,鉛(13 AL- 92 U)等。
過濾機(jī)制 一級過濾器(2種)/二級過濾器自動(dòng)切換機(jī)構(gòu)
樣品室形狀 W270mm x D250mm x H91mm
樣品室氛圍 大氣層
X射線額定輸出 48kV,1.75mA 至 50W
探測器 電子冷卻硅漂移探測器
重合電路 數(shù)字處理方式
使用條款 溫度:5~27℃
 濕度:20~80%
 電源:AC100V~240V,500W
 接地:D類接地
其他(可選) 校準(zhǔn)曲線標(biāo)準(zhǔn)樣品(PVC/PE/銅合金/鋁合金)




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