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適用于光學(xué)薄膜和透明涂膜的厚度測(cè)量技術(shù)

2022-2-18  閱讀(862)

適用于光學(xué)薄膜和透明涂膜的厚度測(cè)量技術(shù)

產(chǎn)品特點(diǎn)
  • 實(shí)現(xiàn)高測(cè)量重復(fù)性(± 0.01 μm 或更小,取決于對(duì)象和測(cè)量條件)

  • 不易受溫度變化的影響

  • 可以制造用于研究和檢查的離線型和制造過程中使用的在線型。

  • 反射型允許從薄膜的一側(cè)測(cè)量

  • 只能測(cè)量透明涂膜層(取決于測(cè)量條件)

產(chǎn)品規(guī)格
測(cè)量厚度1 至 50 μm(用于薄材料)、10 至 150 μm(用于厚材料)    
測(cè)量長度50-5000 毫米
測(cè)量間距1 毫米 ~
最小顯示值0.001 微米
電源電壓AC100 伏 50/60 赫茲
工作溫度限制5~45℃(測(cè)量時(shí)溫度變化在1℃以內(nèi))
濕度35-80%(無冷凝)
測(cè)量區(qū)域φ0.6毫米
測(cè)量間隙約 30 毫米





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