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同步源測(cè)系統(tǒng)RTM2-制樣無需復(fù)雜光刻 參考價(jià)：面議
同步源測(cè)系統(tǒng)RTM2-制樣無需復(fù)雜光刻專為自動(dòng)精密測(cè)量電阻和相關(guān)量而設(shè)計(jì)。半導(dǎo)體參數(shù)分析儀RTM2將直流和交流測(cè)量與集成開關(guān)矩陣結(jié)合在一起。
無掩膜智能投影光電流系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
無掩膜智能投影光電流系統(tǒng)AUT-XperP-Projector，高頻灰度實(shí)現(xiàn)線性可調(diào)的同時(shí)可以快速切換長度，來對(duì)整個(gè)陣列的所有器件進(jìn)行激發(fā)。
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀RTM2-霍爾源測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀RTM2-霍爾源測(cè)系統(tǒng)利用半導(dǎo)體參數(shù)分析儀RTM2的集成開關(guān)矩陣實(shí)現(xiàn)無限的精度和穩(wěn)定性用于片狀、霍爾和電阻張量的測(cè)量。
時(shí)域熱反射測(cè)量系統(tǒng) （TDTR 測(cè)試系統(tǒng)） 參考價(jià)：面議
我司新推出的時(shí)域熱反射測(cè)量系統(tǒng)可用于測(cè)量金屬薄膜、塊體或液體的熱導(dǎo)率、界面熱阻等多項(xiàng)熱物性參數(shù)，薄膜測(cè)量厚度可達(dá)納米量級(jí)！在微納結(jié)構(gòu)新材料的研發(fā)與分析等方面得以...
高效率熒光壽命成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
高效率熒光壽命成像系統(tǒng)或FLIM是基于熒光樣品中不同區(qū)域的熒光的指數(shù)衰減速率的差異。 由τ決定熒光壽命成像的每個(gè)像素的強(qiáng)度，這使研究 人員可以查看具有不同熒光衰...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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