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LensThick非接觸式光學測厚儀利用低相干光干涉測量方法來精確測量厚度，以寬譜光源作為相干光源，其相干長度短，只有在測量光和參考光的光程相等時才能產生干涉峰值，因此具有很好的空間定位特性，測厚儀內置光學干涉儀，通過計算透鏡前后鏡面頂點對應干涉峰之間的距離變化可以得出透鏡的中心厚度。

LensThick非接觸式光學測厚儀的操作簡單，每次可輕松獲得可靠的厚度值。測量數(shù)據(jù)經過數(shù)字信號處理器計算，通過USB傳輸?shù)絇C，再以圖形的形式顯示在用戶界面，可直接讀取每層厚度值，操作更簡單、更直觀。
典型應用 

• 光學元件和透鏡組件：測量單個鏡片以及鏡頭組包括空氣間隔

• LCD、LED、OLED和AMOLED顯示屏：測量總厚度和各層厚度，包括LOCA（液體光學透明粘合劑）層

• 拋光玻璃：測量化學腐蝕前后的厚度或拋光工藝，使玻璃板更薄、更輕

• 半導體：硅/砷化鎵晶片

主要優(yōu)勢

測量過程
將光學測量頭對準被測產品。
激光通過光學測量頭照射到材料表面。
光學測量頭收集反射光并將其返回到系統(tǒng)的干涉儀進行分析。
測量數(shù)據(jù)通過USB傳輸?shù)诫娔X。
LensThick軟件用于顯示測量結果、設置參數(shù)及輸出數(shù)據(jù)報告。

測量軟件
光學測厚儀使用LensThick軟件可實時顯示被測試產品的厚度和干涉信號，以便實時優(yōu)化。
自動峰值模式：使用操作員創(chuàng)建的樣品設計文件，可以定義最多32個反射面（31層）的預期峰值位置，軟件可自動識別在適合的閾度內接近預期峰值位置的峰值，從而計算并輸出每層的厚度。
此外，軟件還帶有判據(jù)功能，即超出設計值的公差范圍，數(shù)據(jù)顯示為紅色。這些功能對質量控制是非常快速有效的。
 

軟件界面	測量原理圖