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當(dāng)前位置:蘇州福佰特儀器科技有限公司>>技術(shù)文章>>X-RAY檢測設(shè)備測試原理
X-ray是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊,在撞擊過程中,因電子突然減速,其損失的動能會以X-Ray形式放出。而對于樣品無法以外觀方式觀測的位置,利用X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強(qiáng)度的變化,產(chǎn)生的對比效果可形成影像,即可顯示出待測物的內(nèi)部結(jié)構(gòu),進(jìn)而可在不破壞待測物的情況下觀察待測物內(nèi)部有問題的區(qū)域。
X-ray能做什么事情?
高精度X-ray是無損檢測重要方法,失效分析常用方式,主用應(yīng)用領(lǐng)域有:
觀測DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、Flipchip等不同封裝的半導(dǎo)體、電阻、電容等電子元器件以及小型PCB印刷電路板
2.觀測器件內(nèi)部芯片大小、數(shù)量、疊die、綁線情況。
3. 觀測芯片crack、點膠不均、斷線、搭線、內(nèi)部氣泡等封裝。
缺陷,以及焊錫球冷焊、虛焊等焊接缺陷。
4. X-ray與AOI的區(qū)別,能看到AOI看不到的地方。
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