日本黑田精工KURODA硅片平整度測量系統

同步檢驗表面形狀、背面形狀和平整度！

NANOMETRO®TT系列是用于縱向旋轉、邊緣夾持式晶圓的平整度測量裝置。邊緣排除區(qū)小1mm，可進行盒至盒的高精度自動測量。評價項目依據SEMI標準。

特點

• 平整度測量例

• 邊緣排除區(qū)1mm

• 邊緣排除區(qū)3mm

• 放射狀測量數據

• 邊緣滾降分析

• 邊緣鳥瞰圖、截面圖

＜Edge Roll-off分析＞
根據表面和背面同步檢測得到的放射狀測量結果，提供符合客戶需求的分析軟件。

性能、規(guī)格

日本黑田精工KURODA硅片平整度測量系統

產品按照標準和生產，產品可滿足用于石化、電廠等行業(yè)，同時根據不同的產品也適用于其他行業(yè)，改進和擴大提高了自己的產品供給，公司生產的測量系統，受到了本國和國內外客戶以及市場的青睞，*設計，壽命超長，性能穩(wěn)定，密封性強，精密鑄造，外觀精美。性質穩(wěn)質，包裝優(yōu)良。

 上海韜世工KURODA硅片平整度測量系統等產品，價格合理，使用范圍廣，部分常規(guī)型號有現貨。如需采購可咨詢。我將竭誠為您服務。請您詢問時請備注貴公司營業(yè)執(zhí)照抬頭、連系方式；您需要的品牌型號數量發(fā)給我們。我們將按順序*時間給您回復報價，歡迎惠顧！