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基恩士 WI-5000 系列干涉式同軸 3D 位移測量儀
閱讀：813 發(fā)布時間：2020-1-3產(chǎn)品簡介：
針對大 10 × 10 mm 的測量區(qū)域，可瞬間獲取 8 萬個點(diǎn)的高度。 由于采用白光干涉原理，不受材質(zhì)/顏色、死角的影響，實(shí)現(xiàn)了微米級的高精度測量。
1.并非以點(diǎn)線測量，而是以“面”進(jìn)行測量針對大10×10 mm的測量區(qū)域，可瞬間獲取8萬個點(diǎn)的高度。由于采用白光干涉原理，不受材質(zhì)/顏色、死角的影響，實(shí)現(xiàn)了微米級的高精度測量。
2.在線實(shí)現(xiàn)高速全數(shù)檢測測量多點(diǎn)時，需要高精度且高速掃描目標(biāo)物。因此，往往會將時間浪費(fèi)在移動載物臺上，不易進(jìn)行全數(shù)檢測。由于WI-5000系列是以面進(jìn)行同時測量，因此可大幅縮短測量時間，實(shí)現(xiàn)全數(shù)檢測。
3.大幅削減離線檢測工時為了用于離線檢測，備有可固定傳感器頭的底座。 配備可削減檢測工時的各種實(shí)用功能。改善從簡易測量到保存數(shù)據(jù)等各種情況的可操作性