NSG3040浪涌測試儀介紹：

Teseq公司的NSG 3040是抗擾度測試中的模擬電磁干擾影響的多功能發(fā)生器，它操作簡便、具有多種功能，滿足企業(yè)、國內(nèi)和標準(包括的IEC/EN標準)和CE標志測試的傳導EMC測試要求。NSG 3040采用了特測公司設計理念包含了電子快速瞬變(EFT)和電能質量測試 (PQT)。豐富的擴展功能使該系統(tǒng)提供更廣泛的應用配置范圍。

創(chuàng)新的模塊化設計-NSG 3040是多用途系統(tǒng)，可以按照基本測試要求配置和擴展以滿足復雜的測試實驗室的需求。成熟的“主—從”概念技術使得單個脈沖模塊能夠獨立校準，并將校準資料和修正系數(shù)存儲于從控制器上。新模塊安裝簡便，無需返回整NSG3040個系統(tǒng)進行校準。

由于采用技術組件，NSG 3040在開關切換技術和相位精度方面建立了新的標準，并且超越了現(xiàn)行標準的要求。高畫質及對比度的7“大彩色觸摸顯示屏使得NSG 3040的操作非常簡便。根據(jù)要求，既可以通過一體化鍵盤也可以用帶有靈敏度調整鍵的滾輪來進行輸入。此外，在開發(fā)環(huán)境下，通過內(nèi)置的TA(測試程序調用)功能，幾個“點擊”就能激活標準測試，迅速、可靠地得到結論性結果。

便捷的觸摸按鈕使輸入的每個參數(shù)的值非常明顯，并允許用戶快速選擇和修改所有的設置。該操作不需要觸控筆，測試參數(shù)可以迅速、簡便地編輯出來?？梢院啽愕剡M行多步驟測試程序的增加、程序次序及參數(shù)值的修改。在“專家模式”下，用戶可以在測試中使用滾輪進行手動參數(shù)修改，從而有效、迅速地簡化激活關鍵閾值。

通過SD讀卡器可迅速進行固件下載?？梢酝暾谋４嬗捎脩舻臏y試。在存儲空間不夠的特殊情況下，可用市場購買的SD記憶卡更換該記憶卡，而存放其中的測試文件可被輕松復制進更大內(nèi)存的SD卡中。

NSG3040浪涌測試儀具有以太網(wǎng)端口，可接受來自個人電腦的外部控制。Windows軟件簡化了測試程序并允許為各種類型的測試編寫復雜的測試序列。在測試進程中，操作人員可以進行觀察并在測試操作中生成測試報告，以此增加測試的效率。

浪涌組合波脈沖1.2/50~8/20µs(組合浪涌脈沖) — CWM 3450

脈沖符合IEC/EN 61000-4-5, GB/T 17626.5標準

NSG3040用于CE應用的靈巧型4KV解決方案

脈沖電壓（開路）：±200V–4.4kV（以1V為步長）

脈沖電流（短路）：±100A–2.2kA

阻抗：2/12Ω

極性：正/負/交替

脈沖重復周期：10s–600s（以1s為步長）

測試時間：1至9999個脈沖，不間斷

相位同步：異步、同步0–359°（以1°為步長）

耦合：外部/內(nèi)部

快速瞬變脈沖群測試 (EFT) 5/50ns—FTM 3425

脈沖符合IEC/EN 61000-4-4, GB/T 17626.4標準

脈沖幅度：±200V–4.8kV（以1V為步長）—開路  

±100V–2.4kV（50Ω匹配系統(tǒng)）

脈沖群頻率：100Hz–1000kHz

極性：正/負/交替

重復時間：1ms – 4200s (70min)

脈沖群時間：1us – 1999s，單脈沖，不間斷

測試時間：1s –1000h

相位同步：異步、同步0-359°(以1°為步長)

耦合：外部/內(nèi)部

電壓暫降和電壓跌落 — PQM 3403

符合IEC/EN 61000-4-11, GB/T 17626.11標準

電壓暫降&電壓跌落：從EUT輸入電壓跌至0V、0%

選配可選自耦變壓器的Uvar：取決于型號（VAR 3005）

選配步進式變壓器的Uvar：0、40、70、80% (INA650x)

峰值沖擊電流能力：500A (230V時)

開關時間：1–5 µS（100?負載）

周期時間：20us至1999s、循環(huán)1至99’999次

測試時間：1s–70’000min，1至99’999個周期，不間斷

重復時間：40µs–35min、循環(huán)1至99999次

相位同步：異步、同步0–359°（以1°為步長）

電壓變化測試(僅與VAR 3005系列調壓器配合使用)

符合IEC/EN 61000-4-11, GB/T 17626.11標準

帶有可選自耦變壓器的0–265V（以1V為步長）、0–115%（以1%為步長）

重復時間：1ms–35min，循環(huán)1–99999次

測試持續(xù)時間：1ms–5s，循環(huán)1至250周期（50Hz）  

重復時間：10ms–10s；1–250周期（50Hz），1–300周期（60Hz）

測試持續(xù)時間：1s–99999min、1–99999個事件、不間斷

相位同步：異步、同步0–359°（以1°為步長）

與INA753和INA701或702共同產(chǎn)生的脈沖磁場

符合IEC/EN 61000-4-9, GB/T 17626.9標準

場強：1–1200A/m (以1A/m為步長)

極性：正/負/交替

重復時間：5s – 10min (以1s為步長)

阻抗：2Ω

線圈因數(shù)：0.0 –50.00

測試時間：1– 9’999個脈沖，不間斷

相位同步：異步、同步0 – 359°（以1°為步長）

EUT供電：單相

EUT VAC：24至260Vrms，50/60Hz (相線—中線)，大400Hz

EUT VDC：0至260VDC

EUT電流：

1x16Arms，不間斷（溫度監(jiān)控）

1x25Arms，1分鐘

EFT（脈沖群） 將所有的線與參考地進行標準耦合（GND）