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首頁>>深圳市達瑞博電子有限公司>>產(chǎn)品展示>>光學(xué)儀器及設(shè)備>>薄膜厚度測試儀

  • 薄膜厚度測試儀 參考價:面議

    Rudolph MP300 薄膜厚度測試儀是一種高性能的晶圓測試和計量設(shè)備,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造行業(yè)。以下是其詳細規(guī)格參數(shù):類型:晶圓測試和計量設(shè)備。用途:用于...
    型號: MP-300 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:深圳市 對比
    薄膜厚度測試Rudolph Technologies魯?shù)婪?/span>晶圓測試計量設(shè)備Cu薄膜厚度測量
    2025/4/29 9:24:20586
  • 薄膜厚度測試儀 參考價:面議

    Rudolph MP200薄膜厚度測試儀是一款由Rudolph Technologies制造的薄膜厚度測量設(shè)備型號:Rudolph MP200 。制造商:Rud...
    型號: MP-200 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:深圳市 對比
    薄膜厚度晶圓測試Rudolph Technologies魯?shù)婪蚣夹g(shù)計量系統(tǒng)晶圓大小: 8“
    2025/4/29 9:22:17462

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