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首頁>>武漢頤光科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>FTIR系列>>IRE200

  • IRE-200 膜厚測(cè)試儀 參考價(jià):900000

    光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,IRE-200是一款超高精度的外延層厚度測(cè)量設(shè)備,利用紅外光譜經(jīng)傅里葉變換進(jìn)行快速分析,主要應(yīng)用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各類外...
    型號(hào): 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:武漢市 對(duì)比
    膜厚測(cè)量膜厚儀反射膜厚儀SR-C反射膜厚儀光學(xué)薄膜測(cè)厚儀
    2025/4/27 16:11:292683

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