一，產(chǎn)品概述

極有價(jià)值的多功能性

Baker DX系列儀器提供了豐富的配置選項(xiàng)，能夠根據(jù)客戶(hù)的實(shí)際需求來(lái)訂購(gòu)。這些配置選項(xiàng)包含繞組絕緣測(cè)試、對(duì)地絕緣測(cè)試、低壓繞組電阻和電感測(cè)試、測(cè)試電壓和電機(jī)引出線根數(shù)。另外還有極化指數(shù)測(cè)試、匝間浪涌測(cè)試、低阻抗線圈測(cè)試和結(jié)合高壓增壓箱-PPX一起使用的眾多選項(xiàng)。

Baker DX 特性4 - 40 kV輸出電壓范圍，能夠?qū)﹄姍C(jī)或者線圈（從分馬力電機(jī)到兆級(jí)功率發(fā)電機(jī)）做的測(cè)試

用同一臺(tái)儀器對(duì)電機(jī)電路或者絕緣系統(tǒng)做高壓或者低壓測(cè)試

直觀的和圖形化的用戶(hù)界面，以及大尺寸和可戴手套操作的觸摸屏。

USB接口被用于連接打印機(jī)和U盤(pán)，可以打印測(cè)試報(bào)告和進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸

線圈模式使得用戶(hù)可以快速的測(cè)試很多線圈并且存儲(chǔ)所有的數(shù)據(jù)

完整的測(cè)試工具包

Baker DX能夠發(fā)現(xiàn)工業(yè)電機(jī)絕緣或者電氣系統(tǒng)中的所有的普遍性問(wèn)題。符合標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試范圍包含：

繞組電阻

電感

電容

阻抗

相位角和品質(zhì)因數(shù)

絕緣電阻

介電吸收比(DA)

極化指數(shù)(PI)

步進(jìn)電壓絕緣測(cè)試

直流對(duì)地耐壓測(cè)試

匝間浪涌測(cè)試

PD (局放測(cè)試)

轉(zhuǎn)子偏心測(cè)試 (RIC)

直流電機(jī)測(cè)試

Baker DX的直流電機(jī)測(cè)試是非?？焖俸偷?。測(cè)試儀中有電樞測(cè)試模式以及用戶(hù)界面和報(bào)告功能。對(duì)間極和勵(lì)磁線圈的測(cè)試結(jié)果是被特別標(biāo)記的。儀器能對(duì)直流電機(jī)電樞做片間和跨間測(cè)試，其測(cè)試結(jié)果能夠被用來(lái)分析直流電機(jī)電樞線圈的短路、開(kāi)路、匝間絕緣薄弱、線圈不平衡以及電樞換向片接片和均壓線的破損或者錯(cuò)接問(wèn)題。Baker DX可以和BAKER ZTX低電抗測(cè)試附件一起使用。ZTX附件能夠?qū)Υ蠖鄶?shù)直流電機(jī)電樞做片間測(cè)試。在測(cè)試阻抗非常低的線圈時(shí)，BAKER ZTX可以降低匝間浪涌測(cè)試電壓并有效的升高匝間浪涌電流。Baker DX-15A的特點(diǎn)是將ZTX技術(shù)集成到了儀器當(dāng)中。

局部放電 

高壓設(shè)備可能遇到局部靜電放電，這種局部電暈或者擊穿放電可能會(huì)損壞絕緣，進(jìn)而可能導(dǎo)致絕緣逐步退化及電路故障。通過(guò)可選的BAKER DX匝間浪涌局放功能在早期就能發(fā)現(xiàn)這種繞組絕緣故障，局放測(cè)試功能符合IEC 61934標(biāo)準(zhǔn)。局放測(cè)試的波形和數(shù)據(jù)被包含在BAKER DX儀器中和Surveyor DX臺(tái)式機(jī)軟件所生成的報(bào)告中。

二，設(shè)計(jì)指標(biāo)