HED-W5100D 全自動(dòng)晶圓ESD測(cè)試機(jī) 參考價(jià)：面議
ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開(kāi)發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5100D 全...
HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測(cè)試設(shè)備 參考價(jià)：面議
目前，對(duì)于半導(dǎo)體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加。對(duì)于在以往的TLP測(cè)試機(jī)無(wú)法完成的高電壓?大電流的特性測(cè)試，在TLP傳輸線脈沖測(cè)試儀上得以實(shí)現(xiàn)、并有...
HANWA HED-C5000R CDM測(cè)試設(shè)備 參考價(jià)：面議
CDM測(cè)試儀,CDM測(cè)試設(shè)備適用于汽車芯片可靠性測(cè)試AEC標(biāo)準(zhǔn)中~靜電CDM測(cè)試設(shè)備
全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備 參考價(jià)：8000000
Hanwa ESD HED-G5000 全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備近年來(lái)，自動(dòng)駕駛技術(shù)逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的超前優(yōu)良技術(shù)，解決自動(dòng)駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于...
HED-N5000 全自動(dòng)ESD測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
芯片ESD測(cè)試設(shè)備，HED-N5000 全自動(dòng)ESD測(cè)試系統(tǒng)，ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開(kāi)發(fā)和半導(dǎo)體制造的...
ESD測(cè)試機(jī) 參考價(jià)：面議
芯片ESD測(cè)試設(shè)備,HANWA HCE-5000ESD測(cè)試機(jī)是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開(kāi)發(fā)和半導(dǎo)體制造的生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量保證都是...
ZEISS 光學(xué)微光顯微鏡 參考價(jià)：面議
emmi微光顯微鏡,ZEISS 光學(xué)微光顯微鏡產(chǎn)品特點(diǎn)：具有優(yōu)化的操作理念。擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學(xué)系統(tǒng)。 基于“向前看"理念的升級(jí)設(shè)計(jì)。
掃描電鏡 參考價(jià)：面議
掃描電鏡擁有高品質(zhì)成像和先進(jìn)分析功能的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 Sigma 系列。Sigma 系列產(chǎn)品將場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)與良好的用戶體驗(yàn)緊密地結(jié)合在一起。
半導(dǎo)體場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 參考價(jià)：面議
GeminiSEM 560 引進(jìn)了 Gemini 3 型鏡筒，創(chuàng)下了表面成像技術(shù)新高度。 Smart Autopilot 這一新型智能自動(dòng)光路調(diào)節(jié)引擎是為方便您...
半導(dǎo)體光學(xué)/共聚焦顯微鏡 參考價(jià)：面議
半導(dǎo)體光學(xué)/共聚焦顯微鏡憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導(dǎo)體在片測(cè)試解決方案、材料電性能測(cè)試設(shè)備、微波射頻器件測(cè)量等測(cè)試技術(shù)服務(wù)。
德國(guó)進(jìn)口晶圓光學(xué)檢測(cè)設(shè)備 參考價(jià)：面議
德國(guó)進(jìn)口晶圓光學(xué)檢測(cè)設(shè)備憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導(dǎo)體在片測(cè)試解決方案、材料電性能測(cè)試設(shè)備、微波射頻器件測(cè)量等測(cè)試技術(shù)服務(wù)。
芯片封裝焊接強(qiáng)度測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
芯片封裝焊接強(qiáng)度測(cè)試儀憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導(dǎo)體在片測(cè)試解決方案、材料電性能測(cè)試設(shè)備、微波射頻器件測(cè)量等測(cè)試技術(shù)服務(wù)。
HANWA ESD測(cè)試全部設(shè)備簡(jiǎn)介 參考價(jià)：面議
ESD測(cè)試設(shè)備,芯片ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開(kāi)發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HE...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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