基本信息

儀器

微區(qū)X射線(xiàn)熒光分析儀

樣品類(lèi)型

固體、液體、顆粒

檢測(cè)元素

輕元素檢測(cè)器：C* – Am
(常規(guī)檢測(cè)器：F – Am)

樣品倉(cāng)尺寸

450(W) x 500(D) x 80(H)

1030(W) x 950(D) x 500(H)

樣品尺寸

300(W) x 250(D) x 80(H)

500(W) x 500(D) x 500(H)

樣品質(zhì)量

1 kg

10 kg

光學(xué)觀察

兩個(gè)帶物鏡的高分辨率相機(jī)

光學(xué)設(shè)計(jì)

垂直同軸 X 射線(xiàn)和光學(xué)觀察

樣品照明/觀察

頂部、底部和側(cè)向照明/明場(chǎng)和暗場(chǎng)

X-射線(xiàn)管

功率

50 W

電壓

50 kV以下

電流

1 mA以?xún)?nèi)

靶材

Rh

X射線(xiàn)光光學(xué)系統(tǒng)

X射線(xiàn)頭數(shù)量

多達(dá)配置四個(gè)

光譜優(yōu)化初級(jí)X-射線(xiàn)濾光片  

5個(gè)位置

檢測(cè)器

熒光X-射線(xiàn)檢測(cè)器

硅漂移檢測(cè)器（SDD）

透射X射線(xiàn)檢測(cè)器

NaI(Tl)

掃描分析

掃描范圍

100 mm x 100 mm

350 mm x 350 mm

步進(jìn)尺寸

2 mm

4 mm

Operating mode

樣品環(huán)境

全真空/局部真空/大氣環(huán)境/He吹掃（選配）

局部真空/大氣環(huán)境/He吹掃（選配）*He吹掃條件對(duì)于兩個(gè)檢測(cè)器都檢測(cè)到C和F是必要的。