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首頁>>大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體光學(xué)檢測系列>>SiC襯底位錯缺陷無損檢測系統(tǒng)

  • 碳化硅襯底位錯缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng) 參考價:面議

    碳化硅襯底檢測,碳化硅成像檢測,碳化硅襯底位錯缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng):最高檢測速度:<17min/片(6“);BPD、TSD、TED分類識別。
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:大連市 對比
    SiC襯底位錯缺陷無損檢測無損檢測儀
    2024/12/4 11:14:451612

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