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什么是X射線衍射儀（XRD）？
1.1 定義
X射線衍射儀（XRD）是通過(guò)分析材料對(duì)X射線的衍射圖譜，確定晶體結(jié)構(gòu)、物相組成的精密分析儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化工、礦物學(xué)等領(lǐng)域。
1.2 工作原理
X射線源：銅靶（Cu Kα, λ=1.5418 ?）或鉬靶（Mo Kα）產(chǎn)生特征X射線。
衍射條件：遵循布拉格方程 ，通過(guò)檢測(cè)衍射角θ計(jì)算晶面間距d。
探測(cè)器：閃爍計(jì)數(shù)器（SC）或二維面探（如HyPix-3000）。
1.3 核心組成
測(cè)角儀：精度±0.0001°（高分辨型）。
樣品臺(tái)：多軸自動(dòng)調(diào)整，支持粉末、薄膜、塊體樣品。
數(shù)據(jù)處理軟件：JADE、HighScore等用于全譜擬合與物相檢索（匹配ICDD數(shù)據(jù)庫(kù)）。
1.4 應(yīng)用場(chǎng)景
催化劑研發(fā)：分析氧化鋁載體晶型（γ-Al?O? vs. α-Al?O?）。
制藥：藥物多晶型鑒別（如利托那韋不同晶型的溶出度差異）。
金屬材料：殘余應(yīng)力測(cè)定（sin2ψ法）。
1.5 選型要點(diǎn)
分辨率：科研級(jí)需＜0.01°（如Rigaku SmartLab）。
附件擴(kuò)展：小角散射（SAXS）、高溫腔（1600℃）。
