功率半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng) 參考價：面議
LET-SP802功率半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)是一款測量與分析功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)的專用儀器，為所有類型的功率半導(dǎo)體器件提供靜態(tài)參數(shù)測量解決方案。LET-SP802...
半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng) 參考價：面議
半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)硬件優(yōu)勢:1. 采用先發(fā)布的12 bit 示波器：正確反映波形的細(xì)節(jié)，并準(zhǔn)確計算出參數(shù)2. 采用先發(fā)布的光隔離、高CMRR探頭系統(tǒng)，解決S...
半導(dǎo)體靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng) 參考價：面議
LET-5000半導(dǎo)體靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是一款測量與分析功率靜態(tài)參數(shù)的專用儀器，為所有類型的功率器件提供靜態(tài)參數(shù)測量解決方案。
多通道絕緣電阻測試設(shè)備儀器 參考價：面議
多通道絕緣電阻測試設(shè)備儀器又稱數(shù)字絕緣電阻測試儀、兆歐表、智能絕緣電阻測試儀等，適于在各種電氣設(shè)備的保養(yǎng)、維修、試驗及檢定中作絕緣測試。絕緣電阻測試儀適于在各種...
IGCT自動測試系統(tǒng) 參考價：面議
IGCT自動測試系統(tǒng)核心是安規(guī)及導(dǎo)通性能測試的訂制化標(biāo)準(zhǔn)測試平臺，其核心是采用了各種儀器儀表（萬用表、內(nèi)阻測試儀、安規(guī)測試儀、電源等）和繼電器板卡、配合測試機(jī)柜...
第三代功率半導(dǎo)體器件動態(tài)可靠性測試系統(tǒng) 參考價：面議
KC-3105 第三代功率半導(dǎo)體器件動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)中可同時完成HTRB和DHTRB測試，整體架構(gòu)模塊化，通訊協(xié)議、通訊接口等采用統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)，便于后期擴(kuò)展和維護(hù)...
功率半導(dǎo)體高精度靜態(tài)特性測試系統(tǒng)(實驗室) 參考價：面議
KC3110功率半導(dǎo)體高精度靜態(tài)特性測試系統(tǒng)(實驗室)，基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規(guī)級模塊的新興要求而進(jìn)行的一次高標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品開發(fā)。本系統(tǒng)可以在...
功率半導(dǎo)體高精度靜態(tài)特性測試系統(tǒng)(生產(chǎn)端) 參考價：面議
KC3111功率半導(dǎo)體高精度靜態(tài)特性測試系統(tǒng)（生產(chǎn)端），基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規(guī)級模塊的新興要求而進(jìn)行的一次高標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品開發(fā)。脈沖信號源輸...
功率半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng) 參考價：面議
KC3120功率半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)可針對各類型 GaN、Si基及SiC基二極管、 MOSFET、IGBT 等分立器件的各項動態(tài)參數(shù)測試，如開通時間、關(guān)斷時間...
JXA-iSP100電子探針顯微分析儀 參考價：面議
JXA-iSP100電子探針顯微分析儀JXA-iSP100在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析...
JXA-iHP200F場發(fā)射電子探針顯微分析儀 參考價：面議
JXA-iHP200F場發(fā)射電子探針顯微分析儀JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)...
JSM-IT210掃描電子顯微鏡 參考價：面議
JSM-IT210掃描電子顯微鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達(dá)驅(qū)動使得操作更安心和快速；而且因為裝有“Simple SEM"，只需選好微...
JSM-IT510InTouchScope掃描電子顯微鏡 參考價：面議
JSM-IT510InTouchScope掃描電子顯微鏡JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場發(fā)射電...
日本電子JSM-IT800熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價：面議
日本電子JSM-IT800熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍、新...
日本電子JSM-IT210掃描電子顯微鏡 參考價：面議
日本電子JSM-IT210掃描電子顯微鏡JSM-IT210是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達(dá)驅(qū)動使得操作更安心和快速；而且因為裝有“Simp...
日本電子JSM-IT710HR掃描電子顯微鏡 參考價：面議
日本電子JSM-IT710HR掃描電子顯微鏡 JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能輕松拍攝高分辨率圖像的SEM" 為理念而推出的HR*系列的第四代...
日本電子JSM-IT810掃描電子顯微鏡 參考價：面議
日本電子JSM-IT810掃描電子顯微鏡JSM-IT810系列FE-SEM結(jié)合多功能性和高空間分辨率，實現(xiàn)了自動化操作。內(nèi)置無需編碼的成像和EDS分析自動化功能...
日本電子JEM-120i透射電子顯微鏡 參考價：面議
日本電子JEM-120i透射電子顯微鏡120kV透射電鏡多用于生物、高分子等軟材料領(lǐng)域。這次開發(fā)的新型電子顯微鏡JEM-120i以“緊湊的"，“易于使用的"和“...
日本電子JEM-2100Plus透射電子顯微鏡 參考價：面議
日本電子JEM-2100Plus透射電子顯微鏡EM-2100Plus電子顯微鏡，不僅擁有信譽(yù)的JEM-2100 的電子光學(xué)系統(tǒng)，還增加了最新的控制系統(tǒng)，大幅提高...
日本電子JEM-F200透射電子顯微鏡 參考價：面議
日本電子JEM-F200透射電子顯微鏡以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)...
JEM-Z200FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-Z200FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標(biāo)配冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器（Ω能量過濾...
JEM-ARM200FNEOARM透射電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-ARM200FNEOARM透射電子顯微鏡NEOARM" 標(biāo)配了日本電子獨自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。...
JEM-Z300FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-Z300FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配備了冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能...
JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術(shù)整合在一起，實現(xiàn)了高度穩(wěn)定性和高分辨率，以精...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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