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半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)硬件優(yōu)勢(shì):

1. 采用先發(fā)布的12 bit 示波器：正確反映波形的細(xì)節(jié)，并準(zhǔn)確計(jì)算出參數(shù)

2. 采用先發(fā)布的光隔離、高CMRR探頭系統(tǒng)，解決SIC/GAN的 測(cè)試難點(diǎn)

3. 高帶寬的電壓和電流探測(cè)，彌補(bǔ)一般系統(tǒng)對(duì)SIC/GAN的測(cè)量要求

4.可以滿(mǎn)足上/下管測(cè)試，避免頻繁連接探頭

5.電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴(kuò)展

6.器件驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)支持SIC/GAN器件

7.系統(tǒng)帶寬：>400MHz

8. 系統(tǒng)可以定制

半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)軟件特點(diǎn)：

1.測(cè)量參數(shù)齊全：開(kāi)關(guān)參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復(fù)參數(shù)

2.支持器件類(lèi)型多：?jiǎn)喂?模塊、MOSFET、IGBT、FWD、GTR …

3.測(cè)試方式：?jiǎn)蚊}沖、多脈沖

4. 離線(xiàn)數(shù)據(jù)分析：既可以在線(xiàn)測(cè)量，也可以記錄數(shù)據(jù)離線(xiàn)分析

5.測(cè)試UI符合工程師的使用習(xí)慣

6.測(cè)量項(xiàng)目及器件支持?jǐn)U展

系統(tǒng)參數(shù)：
●  測(cè)量電壓：標(biāo)配2000V覆蓋650V,1200V,1700V器件的測(cè)試。 可升 級(jí)到10000V。
●  測(cè)量電流：標(biāo)配200A，覆蓋單管、及部分模塊的測(cè)量。 可升級(jí)到6000A。
●  短路電流：2000A
●  測(cè)量參數(shù)：Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr 等。
●  測(cè)量項(xiàng)目： 開(kāi)關(guān)參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復(fù)參數(shù)、安全工作區(qū)等
●  測(cè)量器件：?jiǎn)喂?模塊，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
●  系統(tǒng)帶寬：350MHz、500MHz、1GHz
●  測(cè)量通道：4CH
●  雙脈沖脈寬：最小20ns，最大150us。
●  雙脈沖數(shù)：?jiǎn)蚊}沖、2-30脈沖
●  測(cè)量依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：IEC60747-8 and IEC60747-9、 JEDEC JEP173
LET-2000D的應(yīng)用
?功率半導(dǎo)體的來(lái)料檢驗(yàn)
?功率半導(dǎo)體的動(dòng)態(tài)參數(shù)驗(yàn)證
?實(shí)驗(yàn)室的器件評(píng)估
?實(shí)驗(yàn)室的驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)改善
?實(shí)驗(yàn)室的PCB設(shè)計(jì)評(píng)估
?功率半導(dǎo)體的生產(chǎn)檢驗(yàn)和篩選
測(cè)試項(xiàng)目