RRDE-3A旋轉(zhuǎn)環(huán)盤電極儀 參考價：面議
旋轉(zhuǎn)圓盤電極儀（環(huán)盤）：基于流體動力學控制旋轉(zhuǎn)環(huán)盤電化學測量用的高精度電極旋轉(zhuǎn)儀，RRDE-3A 的轉(zhuǎn)速是由 PWM( 脈寬調(diào)制 ) 信號進行控制。 電極小巧且...
電動涂膜機 參考價：100000
電動涂膜樣品均勻，厚度精確可控。
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng) 參考價：面議
Keysight DAQ970A/973A數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)內(nèi)置六位半數(shù)字萬用表，可測量和轉(zhuǎn)換12 種不同的輸入信號，采用主機+插入式模塊設計。
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng) 參考價：面議
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)DAQ6510 采用 6½ 位分辨率和 15 個內(nèi)置測量功能進行測量。 執(zhí)行低電流、低電阻和溫度測量，并使用內(nèi)置數(shù)字化器查看瞬態(tài)信號。
紅外熱像儀 參考價：面議
全新1024級分辨率——TiX1060紅外熱成像儀，配備超像素技術，可增強至314萬像素。
勻膠旋涂儀 參考價：80000
勻膠旋涂儀又名勻膠機、旋涂儀，美國Laurell勻膠機650系列勻膠機適用于半導體、硅片、晶片、基片、導電玻璃及制版等表面涂覆工藝。
微型真空探針臺 參考價：面議
Mini CPS微型真空探針臺介電/壓電/鐵電/熱釋電/光電材料的電學性能表征，機械彈性設計，避免探針損壞薄膜樣品。
鐵電分析儀 參考價：面議
FEMS100鐵電分析儀采用虛擬接地測量技術模式，提高測量精度，適用溫度-160℃～450℃。
介電溫譜測量系統(tǒng) 參考價：面議
介電溫譜測量系統(tǒng)測量介電常數(shù)、介電損耗、阻抗以及它們隨溫度、時間、頻率變化的曲線，同時得出相位θ、Cole-Cole圖、導納圖和壓電材料的機電耦合系數(shù)（選配）等...
高壓極化裝置 參考價：面議
高壓極化裝置可以對不同材料、厚度的陶瓷樣品進行多路同步極化。每路可設置不同的的極化電壓和電壓時間，并且每路極化互不影響。具有安全互鎖功能，取樣和放樣時，高壓切斷...
高溫電阻測量系統(tǒng) 參考價：面議
高溫電阻測量系統(tǒng)使用多種測量方法測量材料電阻，如四線電阻法，2線法，三環(huán)電極法，4探針法等。
薄膜電阻測試儀(四探針、電渦流) 參考價：面議
電阻測量和監(jiān)控對于任何使用導電薄膜的行業(yè)都至關重要，從半導體制造到可穿戴技術所需的柔性電子產(chǎn)品。R50薄膜電阻測試儀(四探針、電渦流)在金屬膜均勻性分布、離子摻...
超低溫力學測試系統(tǒng) 參考價：面議
超低溫力學測試系統(tǒng)專用于超低溫環(huán)境的材料力學試驗機，溫度低至-269℃。
力電聯(lián)測試驗機 參考價：面議
力電聯(lián)測試驗機通過軟件關聯(lián)試驗機和電學儀表（LCR），實現(xiàn)力--電同步測試，除常規(guī)的試驗機測試外，還可得到：載荷\\應力-電阻\\電容、位移\\應變-電阻\\電...
材料試驗機 參考價：面議
材料力學試驗機，包括靜態(tài)、動態(tài)、沖擊試驗等，采用多種加載方式，如：機械加載、電/液伺服加載、多軸協(xié)調(diào)加載等
微納拉伸試驗機 參考價：面議
微納力學，微納拉伸測試，納米拉伸測試
納米壓痕儀 參考價：面議
高精度納米力學測試系統(tǒng)，原位納米力學測試平臺。
原子力顯微鏡 參考價：面議
原子力顯微鏡可進行高精度的粗糙度、臺階高度及微納米級別三維輪廓等測量，同時可以測量相位、電場、磁場、導電力等其他各種高級物理量。
橢偏儀 參考價：面議
橢偏儀：超薄膜的實時可視化分析測試，實時觀察樣品微觀尺度上的結(jié)構(gòu)?？梢詼y量諸如薄膜厚度、折射率和吸收系數(shù)等參數(shù)。也可以對薄膜進行區(qū)域化(選區(qū))分析，獲得所選區(qū)域...
白光干涉儀 參考價：面議
白光干涉垂直掃描和移相干涉測量法，0.1nm臺階，采用TotalFocus 技術，全視場真彩色圖像。
三維光學輪廓儀 參考價：面議
多模組三維光學輪廓儀標配ZDot白光共聚焦逐層成像，可選裝多模式光學系統(tǒng)。
探針式輪廓儀（臺階儀） 參考價：面議
探針式輪廓儀（臺階儀）源自AFM的光學杠桿技術，精確測量臺階高度及表面輪廓。
探針式輪廓儀（臺階儀） 參考價：面議
探針式輪廓儀（臺階儀）高精度、低噪聲、高穩(wěn)定性和大掃描量程，這些技術特點為P系列臺階儀在晶圓測試領域的廣泛使用奠定了堅實的基礎，也為其拓展了在其他材料測試方面的...
3